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產(chǎn)品展示
  • TOF-qSIMS飛行時間二次離子質(zhì)譜儀
    TOF-qSIMS飛行時間二次離子質(zhì)譜儀設(shè)計用于多種材料的表面分析和深度剖析應(yīng)用,包括聚合物,藥物,超導(dǎo)體,半導(dǎo)體,合金,光學(xué)和功能涂層以及電介質(zhì),檢測限低于1ppm。
    更新時間:2023-11-22型號:TOF-qSIMS瀏覽量:11874
  • EQS二次離子質(zhì)譜儀
    離子分析質(zhì)譜儀/飛行時間二次離子質(zhì)譜儀可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用技術(shù)的SIMS 探針,便于連結(jié)到現(xiàn)有的UHV表面科學(xué)研究反應(yīng)室。
    更新時間:2023-11-22型號:EQS瀏覽量:6354
  • SIMS Workstation二次離子質(zhì)譜儀
    二次離子質(zhì)譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描,自動測量正、負(fù)和中性粒子。
    更新時間:2023-11-22型號:SIMS Workstation瀏覽量:3628
  • MAXIM濺射中性粒子質(zhì)譜儀
    MAXIM 二次離子濺射中性粒子質(zhì)譜儀可分析二次陰、陽離子動態(tài)和中性粒子,所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面,應(yīng)用于SIMS和SNMS的光學(xué)采樣。 ·光柵控制,增強深度分析能力 ·所有能量范圍內(nèi),離子行程的小擾動,及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計數(shù)檢測器
    更新時間:2023-11-22型號:MAXIM瀏覽量:2555
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